NiComp380ZLS-NiComp380ZLS粒度及Zeta电位检测分析仪

产品型号NiComp380ZLS

品       牌

产品简介

NiComp 380 ZLS 粒度及 Zeta 电位检测分析仪

详情介绍

NiComp380ZLS照片

粒度及Zeta电位检测分析仪NiComp380ZLS,美国PSS公司粒度仪。上海拜力生物公司一级代理商。美国PSS公司自1978年创建以来,一直在为颗粒检测分析领域提供技术的仪器设备。

PSS公司简介:美国PSS公司自1978年创建以来,一直在为颗粒检测分析领域提供技术的仪器设备。我们始终把用户放在*,一如既往地致力于为用户解决颗粒检测分析和Zeta电位测定的各种疑难问题。无论是湿法还是干法检测分析,也无论是实验室研究还是生产现场在线检测/监测分析,我们都能提供*的模块化仪器设备满足用户的不同需求。

粒度及Zeta电位检测分析仪NiComp380ZLS产品简介:NiComp 380 ZLS 采用*的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9°)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。

粒度检测分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有技术的 NiComp 无约束自由拟合多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有*优势,其优异的解析度及重现性是其他同类产品*的。

NiComp 380 ZLS通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量,是表征胶体分散系稳定性的重要指标,Zeta电位(正或负)越高,体系越稳定。

整机采用模块化设计,功能扩展灵活方便。*的样品池设计使得伺样方便快捷、用样量少,无须进行繁琐的样品池校准。

粒度及Zeta电位检测分析仪NiComp380ZLS特别介绍:380ZLS configuration

原产地供应商

美国/ PARTICLE SIZING SYSTEMS,INC 

型号

数量

规格描述

380ZLS

1SET

NICOMP 380 Submicron Particle Sizer          

Nicomp 380 微粒粒径检测仪

 

 

Size range0.5nm to 6 microns.

粒径范围:0.5纳米 6微米。

Optics unit15-mW  laser see alternate laser diode option below.

激光光源:15毫瓦大功率固体红色发光二极管 (功率及波长可选)。

Detector High-gain PMT detector.

探测器:高灵度PMT探测器。

Size measurement angle90°

检测角度:90°

Fast, 32-bit digital autocorrelator, new DSP design 4 x T.I. C31.

快速的32位数字自动相关器,数字信号处理技术4 x T.I. C31

Internal analysis computer: fast DSP design T.I. C31.

内置分析计算器: 高速数字信息处理系统T.I. C31

Analysis method Classical  GAUSSIAN and NICOMP Proprietary Multimodal Analysis.

分析方法:经典的高斯分布和多峰模式的NICOMP分布。

Time-history display/printout, three weighting options.

可显示/打印粒径-时间分布图,并提供IntensityVolumeNumber三种分布图。

1SET

Zeta Potential Analyzer Subsystem  

Zeta 电位检测器

 

Zeta Potential measurement range: 10nm to15 microns .

Zeta电位检测范围:10纳米 15微米。

Heterodyne electrophoretic dynamic light scattering.

外差电泳动态光散射。

1024-channel, 32-bit digital autocorrelator DSP-based, 4 x T.I. C31.

1024条通道,32位数字自相关器(基于数字信号处理,4 x T.I. C31)。

Doppler-shifted power spectrum obtained by FFT analysis.

FFT分析获得的多普勒转换能谱。

Low-angle measurement 19deg. –minimizes broadening due to diffusion.

低角度测量(19 deg.)扩散减小到zui小值。

Electric field range0.1 – 200 V / cm.

场强范围:0.1 – 200 / 厘米。

Temperature range: 10 to 75 deg C reg. to+0.3 deg C.

温度范围:5 to 75 deg C reg. to+0.3 deg C

Solid palladium electrode assembly disposable cuvets, no alignment/calibration required.

钯电极装置(可重复使用的石英样品池),无需校正。

1SET

Phase Analyze Light Scattering System PALS技术装置

 

Both stably tested in liquid and organic solvent.

在水剂和有机相中进行稳定的电位检测。

主要特点:

*的样品池设计,无需进行繁琐的样品池校正

一次性样品池,制样方便快捷,避免样品交叉污染

快速自动分析,少于1分钟

时间历史曲线,可获得*测量时间

流通样品池,可自动稀释或自动滴定

高精度步进电机与创新的光纤技术相结合,无需任何人工校准和定位

自动基线检测,全程扫描跟踪

基于光纤技术的多角度粒度检测分析,检测角范围10 ~ 175度(步长0.9度)